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Tektronix TDS7254B 示波器 高超的測(cè)量保真度的分析功能無(wú)往不克的通用性　　TDS7000 系列以其*的風(fēng)采嶄露頭角，以其高超的測(cè)量保真度、的分析功能和無(wú)往不克的通用性獨(dú)占當(dāng)代良好示波器之鰲頭，大大簡(jiǎn)化并加快了速度快且復(fù)雜之系統(tǒng)的設(shè)計(jì)工作。對(duì)于那些從事*電子設(shè)計(jì)的驗(yàn)證、鑒定和調(diào)試工作的設(shè)計(jì)人員而言，該系列示波器是業(yè)界至今佳的解決方案，因?yàn)樗某霈F(xiàn)，一舉克服了他們面臨的信號(hào)完整性挑戰(zhàn)

泰克 Tektronix TDS7704B 示波器 Tektronix TDS7704B美國(guó)泰克示波器7GHz|采樣率20GS/s|4通道 高超的測(cè)量保真度的分析功能無(wú)往不克的通用性 TDS7000B 系列以其*的風(fēng)采嶄露頭角，以其高超的測(cè)量保真度、的分析功能和無(wú)往不克的通用性獨(dú)占當(dāng)代良好示波器之鰲頭，大大簡(jiǎn)化并加快了速度快且復(fù)雜之系統(tǒng)的設(shè)計(jì)工作。對(duì)于那些從事*電子設(shè)計(jì)的驗(yàn)證、鑒定和調(diào)試工作的設(shè)計(jì)

泰克 Tektronix TDS7054 示波器 特征 垂直的 系統(tǒng) TDS7054 TDS7104 TDS7154B TDS7254B TDS7404B TDS7704B輸入通道 4 4 4 4 4 4硬件模式帶寬(- 3 dB) 500兆赫 1千兆赫 1.5 GHz*1 2.5 GHz*1 4 GHz*1 7.25 GHz*1 (典型)， 7GHz*1 保證日出時(shí)間10%到90% (典型) 8

泰克 Tektronix TDS5054B 示波器 TDS5000B，數(shù)字熒光示波器功能概述：□ 1000MHz、500MHz、350MHz 三種帶寬，高實(shí)時(shí)采樣速率達(dá) 5GS/s ?！?強(qiáng)大的數(shù)字熒光技術(shù)（ DPO ）；□ 2 通道和 4 通道兩種型號(hào)；□ 5 GS/s 大實(shí)時(shí)取樣速率；□記錄長(zhǎng)度高可達(dá) 16 MB ；□ 100,000 wfms/s 大波形捕獲速率；□ 生產(chǎn)力加速器： MySc

Agilent DSO80804B 信號(hào)示波器 主要特性與技術(shù)指標(biāo)8-GHz帶寬，可升級(jí)到13 GHz4個(gè)模擬通道高達(dá)40 GSa/s的采樣速率標(biāo)配512 kpts存儲(chǔ)器，可選2 Mpts存儲(chǔ)器（4 GSa/s采樣率時(shí)為64 Mpts） 可選的2 Mpts存儲(chǔ)器XGA顯示屏，256個(gè)亮度級(jí)業(yè)界先的信號(hào)完整性本底噪聲：5 mV/div時(shí)為294 uV觸發(fā)抖動(dòng) 500 fs（rms）極低的硬件垂直靈

Agilent 8970S/V噪聲系數(shù)測(cè)試儀 主要特性與技術(shù)指標(biāo)Complete 10 MHz to 26.5 GHz noise figure measurement solution1 year standard warranty描述The Agilent 8970S removes the burden of designing, building, and supporting a m

Agilent 8970S/V噪聲系數(shù)測(cè)試儀 主要特性與技術(shù)指標(biāo)Complete 10 MHz to 26.5 GHz noise figure measurement solution1 year standard warranty描述The Agilent 8970S removes the burden of designing, building, and supporting a mic

Litepoint IQVIEW 綜合測(cè)試儀 LitePoint公司的IQview的802.11a/b/g/n無(wú)線局域網(wǎng)的研發(fā)測(cè)試解決方案是一種射頻802.11a/b/g無(wú)線網(wǎng)絡(luò)產(chǎn)品，包括MIMO和可選的藍(lán)牙+ EDR的測(cè)試流行的測(cè)試儀器。網(wǎng)絡(luò)接口卡，接入點(diǎn)和嵌入式組件通常使用本產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試。